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X射线荧光光谱仪
2011-11-02 15:47  点击:630
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产品特点:
高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。

精密稳定的高压电源:采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。

低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,静音高速风扇制冷,设计寿命5万小时。

高像素摄像头:内置高清摄像头以及微动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。

全方位的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏,确保操作人员的安全。

超安全样品腔:精密科学计算仪器外壳厚度,选择重量与安全*佳平衡点,既保证仪器使用的安全,也有效减轻仪器重量。

采用新型滤光片:有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。独特光学准直器,光束*小直径达0.025mm,集中X射线光束,增强荧光强度,提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。

先进的光谱分析方法:紧跟国际*前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法,*大程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于**地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。

无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。

**镀层厚度分析:选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析,使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。

技术指标
基本参数

探 测 器
145eV FWHM @ 5.9keV
外型尺寸
650 X 520 X 475 mm

稳 定 度
小于 0.05%
样品腔
18 X 490 X 320 mm

测量对象
固体、液体、粉末
输入电压
AC 220V /50HZ

测量时间
60-300s
功 耗
260W

元素范围
硫(S)-铀(U)
重 量
48Kg

检测下限
2ppm
工作温度
20-30℃

含量范围
2ppm-99.99%
工作湿度
40-70%

X光管压
1-50KV



X光管流
1-1000 A



**测镀层
0-40 m

联系方式
公司:泉州市亚泰斯仪器有限公司
状态:离线 发送信件
姓名:吴国友(先生)
电话:0595-22601710
手机:13860743725
传真:0595-28057900
地区:福建-泉州市
地址:泉州市清蒙技术开发区
邮编:362000
邮件:yts899@163.com
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